| 二次离子质谱-激光扫描共聚焦显微镜联用对单细胞显微成像-原理及应用 |
| 邵长芳;赵耀;吴魁;贾菲菲;罗群;刘哲;汪福意; 分析化学 2018,46(07):1005-101 |
| 二次离子质谱成像;激光扫描共聚焦显微成像;联用成像;单细胞成像;细胞生物学;评述 |
| 二次离子质谱(SIMS)分析主要用于半导体、地质等领域材料表面分析,随着科学仪器技术的发展,近年来,SIMS在生命科学领域中得到了越来越广泛的应用。SIMS可以实现对样品表面的质谱分析、化学成像以及深度剖析。三维SIMS成像分析的横向分辨率 |
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