| ADP2381稳压芯片的过压保护ATE测试研究 |
| 俞加伟;齐金鹏;姚黄; |
| 关键词：电源管理;ATE测试;ADP2381;过压保护 |
| 主要内容：本文首先介绍了芯片行业常用的测试方法和ATE(Automatic Test Equipment)测试的一般原理。根据ADP2381稳压芯片的系统构架和特点给出了该芯片的主要测试指标。结合ATE测试的技术优势,基于软件测试技术,以ADP238 |
| 《电子设计工程》 2015,23(21):117-119+126 |
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