| ATE测试中的Bandgap Trim技术研究 |
| 葛南;陈东坡; |
| 关键词：带隙基准;trim;EEPROM;自动修调 |
| 主要内容：由于工艺的影响,带隙基准电压会有一定的偏差,在ATE测试阶段,需要利用trim技术对基准电压进行修调.通过一种EEPROM修调电路,在EEPROM中写入trim code来控制与trim电阻并联的开关,以达到修调基准电压的目的.同时采用了一 |
| 《微电子学与计算机》 2015,32(04):70-74+78 |
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