| DDS专用芯片静态参数测试方法研究 |
| 刘路扬;张虹;张碚;吕兵; |
| 关键词:DDS专用芯片;数模转换器;静态参数测试 |
| 主要内容:文章重点介绍了基于ATE设备的DDS专用芯片内嵌DAC静态参数的一种测试方法。由于DDS专用芯片的自身特点,其只能输出一定频率的正弦波,测试开发人员唯一能够控制的只有正弦波输出的频率和幅度。而正弦波电压是非线性的,所以利用线性斜波电压测试D |
| 《计算机与数字工程》 2015,43(01):70-74 |
| 全文下载请进入http://hightech.stlib.cn/tpi_1/sysasp/include/index.asp |