| RF芯片测试技术研究 |
| 余琨; |
| 关键词：RF芯片;测试技术;半导体自动测试设备;增益;相位噪声 |
| 主要内容：本论文主要介绍了当前RF芯片及其测试挑战,讲述了应用于无线通信系统和高数据速率交换装置芯片的测试环境开发,研究了RF芯片测试关键技术,包括测试软件开发技术及测试硬件设计技术。然后介绍了如何利用半导体自动测试设备(ATE)对RF芯片关键参数进 |
| 《中国集成电路》 2015,24(03):41-46+55 |
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