| 并行折叠计数器状态向量选择生成 |
| 易茂祥;余成林;方祥圣;黄正峰;欧阳一鸣;梁华国; |
| 关键词：内建自测试;并行折叠计数器;状态向量;折叠距离;选择生成;翻转控制向量 |
| 主要内容：测试模式生成对集成电路内建自测试(built-in self-test,BIST)的效率具有重要影响.现有的并行折叠计数器(parallel folding counter,PFC)只能实现状态向量(state vector,SV)的顺序折 |
| 《计算机研究与发展》 2015,52(11):2468-2475 |
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