| 采用关键路径漏电流变化分析的集成电路老化预测方法 |
| 邱吉冰;韩银和;靳松;李晓维; |
| 关键词：负偏置温度不稳定性;漏电流;老化;工艺偏差 |
| 主要内容：为了应对集成电路老化对电子系统可靠性带来的威胁,提出一种应用关键路径漏电流变化进行负偏置温度不稳定性老化预测的方法.首先用被测芯片在一组测量向量敏化下的漏电流变化构成一个方程组,通过解方程组得到关键路径门电路的漏电流变化;然后通过漏电流变化 |
| 《计算机辅助设计与图形学学报》 2015,27(02):371-378 |
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