| 超深亚微米工艺下基于热量分区的SoC热感知测试调度方法 |
| 焦铬;李浪;刘辉;邹祎; |
| 关键词：超深亚微米;片上系统;热量分区;热感知测试调度 |
| 主要内容：在超深亚微米时代,功耗不但直接影响芯片的封装测试成本,而且过高的功耗将导致芯片热量的增加,影响着芯片的可靠性,为了保证芯片测试的热安全,基于热感知的测试调度方法越来越受到重视。综合考虑超深亚微米工艺下,漏电功耗、空闲芯核唤醒功耗、分区开销和 |
| 《计算机应用研究》 2015,32(12):3682-3684+3696 |
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