| 大规模集成电路测试程序质量控制方法研究 |
| 孙宇;唐锐;王小强; |
| 关键词：集成电路;集成电路测试程序;开发过程;影响要素;评审 |
| 主要内容：集成电路测试程序是集成电路测试的最基本的要素,测试程序的质量直接影响到测试的质量。对大规模集成电路的测试程序的开发过程及影响因素进行了研究,并提出了一套集成电路测试程序质量控制方法,从而保障了集成电路测试程序的质量。 |
| 《电子产品可靠性与环境试验》 2015,33(04):55-59 |
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