| 多模式多时钟域芯片的物理设计方法 |
| 覃晓莹;郑湘南;王政集;粟涛; |
| 关键词：多模式;多时钟域;跨时钟路径;物理设计 |
| 主要内容：为了降低测试成本和难度,提高质量和成品率,量产芯片一般包含存储器内建自测试(MBIST)模式和扫描链测试(Scan Chain Test)模式。另一方面,随着芯片集成的功能不断增多,设计时一般会采用多个不同时钟。针对这种情况,本文提出了一种 |
| 《中山大学学报(自然科学版)》 2015,54(03):14-18+25 |
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