| 复用存储控制接口的高性能SoC测试结构 |
| 娄冕;肖建青;张洵颖;吴龙胜;关刚强; |
| 关键词：存储接口;测试访问机制;片上总线;测试环 |
| 主要内容：为缩短SoC的测试时间并减少测试硬件开销,提出一种高性能SoC测试结构.通过重用存储控制逻辑作为测试接口,可以消除传统双向测试总线寄生的时间间隙,同时建立的流水化测试时序,避免了测试通道中引入的关键路径;针对功能和结构双重测试需求,复用片上 |
| 《北京理工大学学报》 2015,35(05):500-505 |
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