干膜掩孔破裂影响因子试验分析
 
林秀鑫;陈海腾;

关键词:干膜掩孔;工艺参数;干膜聚合程度
 
主要内容:文章通过试验图形转移制程各工艺参数设置对干膜掩孔破裂的影响,并根据试验结果调整相应的工艺参数控制,保证掩孔干膜完好性。
 
《印制电路信息》  2015,23(02):55-57
全文下载请进入http://hightech.stlib.cn/tpi_1/sysasp/include/index.asp
仿站