| 功能覆盖率驱动的自适应遗传算法验证技术 |
| 吴剑浪;石景恺;康怀祺; |
| 关键词：代码逻辑深度;测试点权重;功能覆盖率;自动测试;遗传算法 |
| 主要内容：根据不同功能测试点在芯片代码中的逻辑深度与相应测试向量覆盖到的测试点多少的关系,对不同测试点设置了相应的权重,提出一种基于自适应遗传算法的激励向量生成方法。实验结果表明,该方法能减少编写约束文件时间,较快自动搜索有针对性的测试激励,提高芯片 |
| 《微电子学》 2015,45(04):529-532 |
| 全文下载请进入http://hightech.stlib.cn/tpi_1/sysasp/include/index.asp |
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