| 基于ATE的单总线芯片测试方法研究 |
| 孙崇钧; |
| 关键词：单总线芯片;测试程序;DS18B20;自动测试系统 |
| 主要内容：单总线芯片是指将地址线、数据线、控制线合为一根信号线的一类集成电路,论文通过研究基于自动测试系统的单总线芯片测试方法,以单总线温度传感器芯片DS18B20为例,具体介绍了其测试程序的开发过程。 |
| 《计算机与数字工程》 2015,43(01):110-112 |
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