产业集群决策
 
基于CMOS集成电路闩锁效应理论的实践
 
樊海霞;朱纯仁;
关键词：COMS集成电路;闩锁;单片机
 
主要内容：本文针对CMOS集成电路的闩锁效应产生的原因,结合实际调试过程中的案例,探索芯片内部发生闩锁效应后的故障表现并提出避免方法以及解决方案。
 
《电子测试》  2015,(18):42-43
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