| 基于C单元反馈回路的容SEU锁存器设计 |
| 黄正峰;彭小飞;鲁迎春; |
| 关键词：单粒子翻转;锁存器;C单元;软错误 |
| 主要内容：随着电子技术的不断发展,集成电路的特征尺寸不断缩小,导致电路对宇宙高能粒子引发的单粒子翻转愈发敏感。提出了一种对单粒子翻转完全免疫的抗辐射加固锁存器。该锁存器利用具有过滤功能的C单元构建反馈回路,并在锁存器末端使用钟控C单元来阻塞传播至输出 |
| 《微电子学》 2015,45(02):178-183 |
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