| 基于IEEE 1500标准的IP核内建自测试设计 |
| 冷冰;谈恩民; |
| 关键词：IP核测试;内建自测试;IEEE 1500标准 |
| 主要内容：针对内建自测试(BIST)技术在SoC测试上的应用问题,提出了一种在IEEE 1500标准下对IP核的BIST设计方法。该方法根据IEEE 1500标准的测试结构和规范研究讨论了测试壳的各个组成单元,实现了测试壳在各种工作模式下的指令操作, |
| 《国外电子测量技术》 2015,34(09):75-80 |
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