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基于PLC的芯片测试分选机设计
徐银森;吴华;
关键词：PLC;芯片;测试分选机
主要内容：利用三菱PLC对芯片测试分选机进行控制,介绍了测试分选机的主要构成部分、电气控制及软件设计。给出了测试分选机的工艺流程图、整个系统控制框图和程序结构图等。
《机电信息》 2015,(15):134-135
全文下载请进入http://hightech.stlib.cn/tpi_1/sysasp/include/index.asp
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