| 基于PTM模型与BN模型的电路可靠性计算方法比较 |
| 蒋玉芳;邓左祥; |
| 关键词：BN方法;PTM方法;基本门电路;电路可靠性 |
| 主要内容：现代工艺的发展使得集成电路在获得高性能的同时,也更容易受到软差错的影响。针对软差错影响下电路的可靠性问题,选取了二种典型的基于条件概率理论的门级评估方法:BN方法和PTM方法,分别介绍了其原理,并结合实验分析了它们各自的功能、适用范围以及复 |
| 《计算机科学》 2015,42(S1):115-117+133 |
| 全文下载请进入http://hightech.stlib.cn/tpi_1/sysasp/include/index.asp |
微信公众号