| 基于SPEA-Ⅱ算法的SoC测试多目标优化研究 |
| 谈恩民;朱峰;尚玉玲; |
| 关键词：SPEA-Ⅱ算法;SoC测试;测试时间;测试功耗 |
| 主要内容：测试功耗、测试时间是SoC测试优化中的两个测试目标,它们之间存在相互影响的关系。在多目标优化过程中,进化算法对于解决多目标优化问题拥有比较好的优化效果,因此各种进化算法被广泛地应用于SoC测试多目标优化的研究中。对SoC测试时间、测试功耗这 |
| 《国外电子测量技术》 2015,34(08):29-33 |
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