| 基于UVM的可重用SoC功能验证环境 |
| 吕毓达;谢雪松;张小玲; |
| 关键词：通用验证方法学(UVM);CPU功能模型;随机测试向量;系统级芯片验证;系统级芯 |
| 主要内容：现在系统级芯片(So C)系统集成度和复杂度不断提高,验证环节消耗时间占用了芯片研发时间的70%,芯片验证已经成为芯片研发中最关键的环节。目前业界验证方法大多有覆盖率低和通用性差等缺点,基于上述原因提出了一种新的验证方法。与传统验证方法和单 |
| 《半导体技术》 2015,40(03):234-238 |
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