| 基于故障概率的组合电路软错误率分析 |
| 闫爱斌;梁华国;黄正峰;袁德冉; |
| 关键词：软错误率(SER);组合电路;单粒子瞬态(SET);扇出重汇聚;故障概率 |
| 主要内容：为了在集成电路的设计阶段进行软错误率的有效评估,建立了一种精确的单粒子瞬态故障概率模型与脉冲屏蔽模型,并提出一种基于故障概率的组合电路软错误率评估方法。通过门级仿真可得各个组合逻辑门单元信号概率,将信号概率反转以模拟故障注入,并使用提出的数 |
| 《电子测量与仪器学报》 2015,29(03):343-351 |
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