| 基于可控功耗的扫描分段测试结构 |
| 江舟;向东;神克乐; |
| 关键词：扫描测试;扫描分段;低功耗;可控捕获功耗;测试设计 |
| 主要内容：随着芯片尺寸进入微纳米级时代,集成电路测试过程中产生的功耗也越来越大,已经成为了芯片生产和测试的瓶颈。已有的研究主要是降低移位功耗或者捕获功耗,但是很少有方法能够同时降低这2个阶段的功耗,而且目前还没有针对捕获功耗可控性的研究。该文提出了一 |
| 《清华大学学报(自然科学版)》 2015,55(08):889-894 |
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