| 基于跨度和虚拟层的三维芯核测试外壳扫描链优化方法 |
| 刘军;吴玺;裴颂伟;王伟;陈田; |
| 关键词：三维嵌入式芯核;测试外壳扫描链;跨度;虚拟层 |
| 主要内容：为减少三维芯核绑定前和绑定后的测试时间,降低测试成本,提出了基于跨度和虚拟层的三维芯核测试外壳扫描链优化方法.所提方法首先通过最大化每条测试外壳扫描链的跨度,使得绑定前高层电路和低层电路的测试外壳扫描链数量尽可能相等.然后,在TSVs(Th |
| 《电子学报》 2015,43(03):454-459 |
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