| 基于粒子群的神经网络测试生成算法 |
| 杨慎涛;刘文波; |
| 关键词：计量学;数字电路板;故障检测;测试生成;神经网络;粒子群算法 |
| 主要内容：随着集成电路的规模和复杂度的不断提高,高效地生成测试矢量已成为数字电路板故障检测的关键所在。在对测试向量自动生成问题分析的基础上,利用神经网络对被测电路进行数学建模,将测试矢量生成转化为数学问题,提出了一种高效求解该问题的粒子群优化算法。用 |
| 《计量学报》 2015,36(02):197-201 |
| 全文下载请进入http://hightech.stlib.cn/tpi_1/sysasp/include/index.asp |
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