| 基于门控结构的低功耗扫描测试方案 |
| 祝雪菲;张万荣;万培元;王成龙;靳佳伟;史岩;马威;薛宝华; |
| 关键词：可测性设计;低功耗;门控扫描时钟;门控组合逻辑 |
| 主要内容：针对芯片测试功耗过高,严重影响芯片的良率的问题,提出了门控扫描时钟方法和门控组合逻辑方法相结合的测试方案来降低芯片测试功耗。采用该测试方案,使用Synopsys公司的DFT Compiler软件,完成了一款电力网载波通信芯片的可测性设计。结 |
| 《电子器件》 2015,38(06):1316-1320 |
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