| 基于扫描链的可编程片上调试系统 |
| 陈华军;娄卓阳;王焕东;刘慧;王琳; |
| 关键词：硅后调试;片上调试系统;可编程;可调试性设计;故障诊断;实速测试 |
| 主要内容：研究了用于检验硅后芯片的硅后调试技术,考虑到现有的硅后调试技术缺乏实时监测芯片内部运行状态的能力,导致故障诊断的结果很不准确,提出一种基于扫描链的新的可编程片上调试系统。该系统充分利用芯片的片上传输总线,通过添加极少的硬件电路,使芯片能够实 |
| 《高技术通讯》 2015,25(06):584-592 |
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