基于时空冗余的容软错误锁存器设计
 
黄正峰;申思远;彭小飞;闫爱斌;鲁迎春;

关键词:锁存器;软错误;瞬态错误;冗余技术
 
主要内容:随着集成电路工艺尺寸的不断降低,电路对空间辐射引起的单粒子效应越来越敏感。为了提高电路的可靠性,基于时间和空间冗余技术提出了一种高性能的容软错误锁存器DSH-CG。该锁存器包括两个内部冗余模块和一个由C单元与保持器组成的输出级,不但可以过滤
 
《电子测量与仪器学报》  2015,29(09):1310-1319
全文下载请进入http://hightech.stlib.cn/tpi_1/sysasp/include/index.asp
仿站