基于蚁群-遗传混合算法的系统芯片低功耗测试方案
 
张培明;商进;李晓龙;

关键词:系统芯片;蚁群算法;遗传算法;低功耗测试
 
主要内容:针对系统芯片测试功耗快速增加的特点,提出了一种有效的低功耗测试方案。该方案将测试向量的海明距离作为测试功耗优化的目标,将测试功耗优化问题转化为对测试向量进行海明距离排序问题,采用一种改进的蚁群-遗传混合算法对测试向量进行排序,从而使测试功耗
 
《黑龙江科技信息》  2015,(20):20
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