| 集成电路测试系统的竞争冒险 |
| 顾翼; |
| 关键词：测试系统;数字通道;竞争冒险 |
| 主要内容：在集成电路测试领域,因客观存在的通道传输延迟而导致集成电路测试系统对交流参数测量准确度降低是不可避免的。尽管时域反射技术的应用在一定程度上解决了这一问题,但是仍然无法完全解决传输延迟所带来的所有问题。论文以泰瑞达J750EX集成电路测试系统 |
| 《计算机与数字工程》 2015,43(01):32-35 |
| 全文下载请进入http://hightech.stlib.cn/tpi_1/sysasp/include/index.asp |
微信公众号