| 集成电路测试系统总定时精度自动校准程序设计 |
| 刘倩;胡勇;李轩冕; |
| 关键词：集成电路测试系统;总定时精度;校准 |
| 主要内容：在高速集成电路测试应用中,当集成电路测试系统驱动或测量某一信号时,其驱动沿或比较沿与预期时间产生1ns的偏差都将导致整个测试时序严重偏离,使测试结果失去意义。系统总定时精度(OTA)就是反映测试系统提供的信号驱动或比较沿是否在预期的时间范围 |
| 《计算机与数字工程》 2015,43(01):29-31+69 |
| 全文下载请进入http://hightech.stlib.cn/tpi_1/sysasp/include/index.asp |
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