产业集群决策
 
集成电路低功耗测试技术研究
 
商进;
关键词：集成电路;测试功耗;可测性设计;测试向量
 
主要内容：针对测试过程中集成电路芯片测试功耗过高的问题,简要分析了集成电路芯片测试技术的现状,对国内外相应的测试方案进行了探讨,并对各种方案的优缺点进行了总结。
 
《黑龙江科技信息》  2015,(20):46
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