| 集成电路老化测试系统的数据通信接口设计 |
| 胡舜峰;张福洪;陈妍芬;徐春晖; |
| 关键词：集成电路;动态老化;接口设计;现场可编程逻辑门阵列 |
| 主要内容：新一代大规模集成电路高温动态老化系统的设计是近年来研究的热点。以现场可编程逻辑门阵列作为核心平台,通过高速数据接口,将上位机中的数据传输到老化测试芯片中,同时把老化过程中的相关数据反馈回上位机。通过FPGA软硬件平台验证表明,该数据通信接口 |
| 《杭州电子科技大学学报(自然科学版)》 2015,35(06):46-49 |
| 全文下载请进入http://hightech.stlib.cn/tpi_1/sysasp/include/index.asp |
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