| 集成电路芯片温度依赖的PbSe量子点PL光谱研究 |
| 王鹤林;张宇;刘文闫;王国光;张铁强; |
| 关键词：胶体PbSe量子点;光致发光光谱;集成电路;温度检测 |
| 主要内容：制备了3.6,5.1和6.0nm三种尺寸的胶体PbSe量子点,并对其光学特性进行实验研究。在室温条件下,实验发现小尺寸胶体PbSe量子点的光致发光光谱随温度升高发生红移;大尺寸胶体PbSe量子点的光致发光光谱随温度升高发生蓝移。以PbSe量 |
| 《光谱学与光谱分析》 2015,35(05):1169-1172 |
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