| 抗辐照标准单元库验证方法研究 |
| 徐大为;姚进;胡永强;刘永灿;周晓彬;陈菊; |
| 关键词：抗辐照标准单元;SOI;验证电路 |
| 主要内容：对抗辐照单元库的验证方法进行研究。以0.5μm抗辐照单元库为例,研究抗辐射单元库的验证方法。设计了一款验证电路,对单元库进行验证,单元库功能和性能满足设计要求,抗辐射能力达到500 krad(Si)。 |
| 《电子与封装》 2015,15(03):14-17 |
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