| 考虑NBTI效应的组合电路软错误率计算方法 |
| 闫爱斌;梁华国;黄正峰;蒋翠云; |
| 关键词：负偏置温度不稳定性;扇出重汇聚;单粒子瞬态;软错误率 |
| 主要内容：工艺尺寸的降低导致组合电路对软错误的敏感性越发突出,由负偏置温度不稳定性(NBTI)效应引起的老化现象越发不容忽视.为了准确地评估集成电路在其生命周期不同阶段的软错误率,提出一种考虑NBTI效应的组合电路软错误率计算方法.首先通过对节点输出 |
| 《计算机辅助设计与图形学学报》 2015,27(08):1562-1569 |
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