| 老炼对集成电路静态电源电流的影响 |
| 于祥苓;王安帮; |
| 关键词：老炼;可靠性筛选试验;静态电源电流;早期失效;加工工艺;可靠性 |
| 主要内容：为使用户得到更可靠的集成电路产品,老炼是目前最常用和最有效的一种可靠性筛选试验方法。介绍了集成电路老炼的意义和试验方法,通过研究正常CMOS器件和有工艺缺陷的CMOS器件的静态电源电流随老炼时间的变化曲线,经在老炼过程中多次不同时间测试得出 |
| 《微处理机》 2015,36(03):7-8+11 |
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