热效应布局下的缓冲器插入时序优化方法
 
王新胜;韩良;喻明艳;

关键词:大规模集成电路;布局规划;缓冲器插入;互连线;模拟退火算法
 
主要内容:随着集成电路的集成度越来越高,芯片的发热量越来越大且其内部温度呈不均匀分布,这会影响关键路径的传播延时,进而影响基于缓冲器插入的关键路径性能.提出了一种考虑芯片热效应布局优化的缓冲器插入时序优化方法,在版图设计的早期估计芯片的热分布和温度分
 
《北京航空航天大学学报》  2015,41(10):1813-1820
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