| 深亚微米工艺下SoC多点温度低功耗测试调度方法 |
| 焦铬;范双南; |
| 关键词：深亚微米工艺;多点温度;片上系统;低功耗测试调度 |
| 主要内容：在深亚微米技术实现的片上系统中,为了解决由于制程变异引起的温度不确定性,提出了一种多点温度测量的SoC低功耗测试调度方法。该方法采取在芯片中内建多个温度传感器,通过内建的温度传感器来感应温度,在SoC的核心部位进行多点采集,取温度的最高值反 |
| 《电子测量技术》 2015,38(07):67-70 |
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