| 深亚微米工艺下单粒子瞬态引起的串扰效应 |
| 蒋见花;卢奕岑;周玉梅; |
| 关键词：串扰;噪声;单粒子 |
| 主要内容：随着集成电路工艺的发展,供电电压降低,线条变细,使得集成电路受到普通串扰和粒子辐射的影响更严重.由此对130~40nm工艺节点普通串扰和单粒子引起的串扰效应进行了对比分析.单粒子引起的串扰比普通串扰更加严重,而且随着工艺进步,单粒子引起的串 |
| 《微电子学与计算机》 2015,32(02):60-64 |
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