| 时序基准电路S344可测性设计 |
| 赵树军;王永强;张帅; |
| 关键词：可测性设计;扫描测试技术;硬件描述语言;网表;测试故障覆盖率 |
| 主要内容：以时序电路的可测性设计方法为主要研究内容,针对时序电路中由于时序元件的可观测性和可控制性比较差,导致测试生成难度较大,并且存在影响测试故障覆盖率的问题。以固定型故障模型的检测为研究基础,通过对时序电路进行扫描测试技术的可测性设计,解决时序电 |
| 《黑龙江工程学院学报》 2015,29(02):13-17 |
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