一种CMOS新型ESD保护电路设计
 
沈放;陈巍;黄灿英;陈艳;

关键词:静电放电(ESD)保护;栅极接地NMOS;抗静电;电流集边效应;低成本
 
主要内容:金属氧化物半导体(MOS)器件的缩放技术使集成电路芯片面临着严重的静电放电(ESD)威胁,而目前采用的ESD保护电路由于电流集边效应等原因,普遍存在着抗静电能力有限、占用较大芯片面积等问题。根据全芯片ESD防护机理,基于SMIC 0.18μ
 
《现代电子技术》  2015,38(24):128-131
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