| 一种SerDes的高效集成可测试性设计 |
| 胡曙凡;田泽;邵刚; |
| 关键词：可测性设计;回环;模拟测试总线;SerDes |
| 主要内容：随着集成电路工作速度的提高以及特征尺寸的缩小,芯片设计和测试的费用越来越高。特别是进入深亚微米工艺以及超高集成度发展阶段以来,芯片的功能越来越强大,但也带来一系列设计和测试问题。测试和可测性设计的理论与技术已经成为VLSI领域中的一个重要研 |
| 《计算机技术与发展》 2015,25(04):204-207+212 |
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