| 一种半并行多芯片测试方法 |
| 王志平;季晓燕; |
| 关键词：射频收发;V93000测试系统;半并行测试;多芯片 |
| 主要内容：为降低射频收发芯片测试成本,在量产测试时需要尽可能提高芯片并行测试的数量。但是由于测试系统硬件限制,当并行测试的芯片数量>4时,测试系统通常实现不了完全意义上的并行测试。通过测试电路板的设计、测试程序的开发和测试程序的调试与优化,对射频测试 |
| 《无线电工程》 2015,45(08):83-86 |
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