| 一种基于标准库单元的集成电路老化检测方案 |
| 孙权;付萌萌; |
| 关键词：集成电路老化;热载流子注入;负偏压温度不稳定性;电路监测 |
| 主要内容：集成电路老化的影响,随着集成工艺尺寸越来越小而越来越明显。其主要影响表现在增加了电路元件的输入-输出信号的延迟,从而降低了电路工作能力。提出一种基于标准库单元的老化监测,并介绍本设计的简单性和灵活性。设计集成电路时可以设计使用不同的老化监测 |
| 《物联网技术》 2015,5(02):32-33 |
| 全文下载请进入http://hightech.stlib.cn/tpi_1/sysasp/include/index.asp |
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