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一种集成电路芯片测试分选机的设计

苏建国;胡汉球;

关键词：CCD检测;FPGA;集成电路;测试分选机

主要内容：设计了一种转塔式测试分选机,用于极小型半导体器件的测试、打标、分选和编带。此设备处理速度快,检测分选效率高,对半导体器件损伤小,可以大规模用于极小型半导体器件的测试分选。

《江苏工程职业技术学院学报》 2015,15(02):1-3

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