| 一种考虑空间关联工艺偏差的统计静态时序分析方法 |
| 喻伟;杨海钢;刘洋;黄娟;蔡博睿;陈锐; |
| 关键词：集成电路;统计静态时序分析;空间关联;非高斯非线性;工艺偏差;延时模型 |
| 主要内容：为了准确评估工艺参数偏差对电路延时的影响,该文提出一种考虑空间关联工艺偏差的统计静态时序分析方法。该方法采用一种考虑非高斯分布工艺参数的二阶延时模型,通过引入临时变量,将2维非线性模型降阶为1维线性模型;再通过计算到达时间的紧密度概率、均值 |
| 《电子与信息学报》 2015,37(02):468-476 |
| 全文下载请进入http://hightech.stlib.cn/tpi_1/sysasp/include/index.asp |
微信公众号