| 一种面向TTL集成电路的小型检测仪设计 |
| 孙韩;朱军; |
| 关键词：集成电路;故障检测;MCS51单片机 |
| 主要内容：本文基于MCS51单片机,构建了一种面向TTL集成短路芯片的小型检测仪。该检测仪能快速、准确地对TTL系列数字逻辑芯片的逻辑功能进行检测,从而判断芯片的好坏和型号。该检测仪的使用,能减少了测试时间,提高了检测效率,降低了劳动强度。该检测仪具 |
| 《办公自动化》 2015,(16):35-36 |
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