一种面向多核DSP芯片的低功耗验证方法
 
孙健;时鹏飞;冯春阳;蒙玲;张辉;

关键词:多核DSP;低功耗;电源域;仿真验证
 
主要内容:随着芯片设计进入纳米时代,芯片的规模和工作频率不断提高,尤其在工艺发展到65nm及以下时,芯片的功耗已经成为继面积和性能之后的主要影响因素之一.面对低功耗设计技术要求的不断增加,对面向低功耗设计的仿真验证也提出了更高的要求.对此全面系统地介
 
《微电子学与计算机》  2015,32(12):116-121+125
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