| 一种数字集成电路标准样片的设计实现 |
| 胡勇;刘倩;周厚平; |
| 关键词：标准样片;溯源性;不确定度评定;定值 |
| 主要内容：标准样片是实现微电子量值溯源和传递的良好途径,论文着重于通过电路设计实现对数字集成电路参数的模拟,并对标准样片测量不确定度评估展开了相应的研究,用以提升标准样片参数的可编程性和量值的准确性,使之适合用于集成电路测试系统的检定、校准以及比对。 |
| 《计算机与数字工程》 2015,43(01):14-16+154 |
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